LED/照明&驱动器测试解决方案上海芮测电子科技有限公司

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	Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真负载	Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真负载，LED driver为电流源，因此有一可输出的电压范围及一固定的输出电流。在LED driver的测试上，一般常使用的方式有下列几种：1、使用真实电阻当负载。2、使用传统电子负载操作于定电阻(CR)模式或定电压(CV)模式。3、使用真实LED串联当负载。/OL>但是这些测试方式都有其缺点，无法完全适合LED driver的测试需求。由此生产出Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真负载。
	Model 61500 series可编程交流电源	Chroma 61500系列交流电源供应器，树立了业界高性能AC电源产品的新标准。Model 61500 series可编程交流电源可提供强大的使用功能，如电网干扰模拟，可编程输出阻抗，全方位的测量功能，合成波形与IEC标准测试软件。因拥有以上特点使得61500系列适合应用于一般商业产品，电力电子，航空电子设备，*与IEC标准测试的开发和运用，并且从实验桌上测试到大量生产单位皆可适用。 Model 61500 series可编程交流电源提供用户不同容量的单相输出产品，从 500VA到4000VA。不论是在研发设计，产品验证或量产测试等，都有完善的应用选择。
	Model 8491 LED电源自动测试系统	Model 8491 LED电源自动测试系统——致茂电子成立于1984年，以自有品牌”Chroma”行销全球，为精密电子量测仪器、自动化测试系统、制造资讯系统与全方位Turnkey测试及自动化解决方案供应商，主要产品包括LED 、太阳能、锂电池、电动车、半导体/IC、雷射二极体、平面显示器、视频与色彩、电力电子、被动元件、电气安规、热电温控、自动光学检测、以及制造资讯系统等测试解决方案。Model 8491 LED电源自动测试系统更多内容请查看详细说明。
	Model 58221-200-2LED 电性测试模组	Model 58221-200-2LED 电性测试模组是特别针对LED所设计之全方位电性测试机，主要满足所有LED电性测试所需之功能。针对High voltage (HV)部份，58221- 200-2 提供至±200V/±100mA之高精准度电流源，而High Power (HP) 部份，Model 58221-200-2LED 电性测试模组提供±10V/±2A之高精准度电流源。另外58221- 200-2设计为LED单机测试机，使用者除了可单机操作以外也可利用USB介面与其他设计进行整合与同步量测。
	Model 58212-CLED Mapping Probe Tester	The Chroma 58212-C features an automated LED wafer/chip probe tester, delivering fast and accurate LED measurements with test times less than 125ms *1. The system can be modified to support different LED structures including Lateral, Vertical, and Flip Chip designs. Integrated scanners provide autonomous wafer mapping to guarantee precision testing. The patented probe head prevents device scratch
	Model 58173-TCLED Chip Level Tester	The LED Test System Model 58173-TC focuses on LED wafer/chip characteristics analysis and provides optimized test performance. Its test items include a variety of voltage/ current output measurement, optical power measurement, and spectrum analysis. On measurement, several electrical and optical characteristics analysis can be achieved at a time within 25 ms, and its electrical measurement support
	Model 54100 series致冷芯片温度控制器	Model 54100 series致冷芯片温度控制器(TEC) 致冷晶片元件模组是一种使用电流控制热流的固态元件，它提供快速的温度响应和超高温稳定性，是非常有效率的小型温度控制器； TEC 温度控制器是非常具环保性且简洁，不像传统压缩机一样需要使用机械(马达)零件或冷(热)媒的消耗。 Model 54100 series致冷芯片温度控制器拥有很好的温度监测功能，它允许两个T-type热电偶输入，控制器内部的冷端温度稳定度可达0.001℃，整体系统的性能可达0.01℃温度解析度和高稳定性。TEC 驱动控制采用滤波型PWM架构输出，相较于传统PWM，不仅可提供更高的功率输出，并调变PWM电流趋近直流电流输出，这是一个很重要的特点，可避免量测敏感元件时的电磁干扰。
	Model 51101 51101C series温度多功能记录器	Model 51101 51101C series温度多功能记录器能精准量测温度、电压、电流等基本物理量，无论一般应用研发、量产、制程管理均能广泛应用于不同产业，所需的通道数可由单一通道至数百个通道，例如温度炉需针对腔体不同位置确认温度的均匀性，确保有效完成烘烤过程；车用电池需个别量测池芯之电压与温度，确保其使用**；交换式电源供应器需量测主侧、二次侧的电压电流，以及高功率转换之温度；化学反应过程需持续监控多种反应成分之气压、流速与温度等，长时间记录储存资讯不只反应量的大小，也反应与时间的关联性，因此Model 51101 51101C series温度多功能记录器为一不可或缺的分析工具。
	Model 58620激光半导体特性测试机	Model 58620激光半导体特性测试机：激光半导体为高科技产品，价格不斐，多数使用于光通讯/医疗/国防等领域，并与人类社会息息相关。传统的激光半导体因价格高昂，可靠性要求程度极高，需要大量的人工与时间来进行光路调整(Alignment)测试与封装后的检测。致茂Model 58620激光半导体特性测试机为一全新概念机种，专为激光半导体(Laser Diode)所打造设计，搭配自动化特性检测All-In-One设计概念，可供不同的测试项目同时进行检测；搭配高容量的载具设计，可供多颗激光芯片(Chip level)进行大量测试；另外藉由光学定位辅助(AOI)，可提升自动化检测的速度与可靠性；高稳定性的温控平台设计，可让研发人员**地了解激光半导体特性与温度的关系。
	影像式光源测角仪	Near-field luminous intensity and color distribution measurement optimized for LEDs Applications Measurement of near-field luminous intensity distribution for LEDs and small light sources Measurement of near-field chromaticity for LEDs and small light sources Creation of accurate and efficient ray sets for optical design